FISCHER—讓測量變得簡便
現今,FISCHER 的測量和分析儀器廣泛應用于世界各個領域,可滿足客戶對高精度、高可靠性測量和操作簡便的需求。我們通過專業的咨詢服務為客戶提供理想的解決方案,即從第一次接觸開始,不斷溝通,直至達到定制化服務的理念。這些緊密合作與我們的創新驅動力不斷結合,為形成新的測量解決方案奠定了堅實的基礎。ISOSCOPE®、 DELTASCOPE® 和DUALSCOPE® 手持式儀 器,配合各種探頭使用,可以簡單、快速地測量涂鍍層的厚度。FISCHERSCOPE® MMS® PC, 集成了磁感應法、渦流法和BETA背反射法的多功能測量系統,用于測量鍍層厚度和材料測試。FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 基于X射線熒光法,用于測量鍍層厚度和材料分析 。
涂鍍層測厚儀:
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膜厚測量: 無論是在鐵磁性材料上還是在非鐵磁性材料上測量涂層厚度或電鍍層厚度, 您都可以在FISCHER功能強大的手持式儀器分類中找到合適的便攜式測厚儀。 無論您有什么樣的測量需求,又或者要面對多少種不同的基體材料, FISCHER 的儀器和探頭必能讓您的測量手到擒來。根據您的需求選擇合適的型號,點擊查 看詳細信息,如有任何疑問,或是想了解fischer更多產品信息,如:可選探頭、 校準片、X-RAY膜厚儀、孔隙率測試儀等歡迎在線留言或來電咨詢! 021-58951071
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fischer膜厚儀MP0 |
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膜厚儀MP0R/MP0R-FP |
?無需校準即可測量。 |
通過USB端口可以與電腦相連,探頭由連接電纜連接:
※ 儀器集成了探頭,便于操作,出色的重復精度 |
FMP10 |
FMP20 |
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FMP30 | FMP40 |
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手持式FMP系列是基于磁感應法(DELTACOPE),電渦流(ISOSCOPE)和兩用方法(DUALSCOPE), 采用了可更換探頭的設計,非常適用于對涂鍍層進行無損測量。儀器的模塊化設計,可供客戶根據不同的測量需求選配不同的測量系統.除了眾多的測厚儀機型之外, FISCHER公司還向客戶提供大量不同功能的高精度探頭. DeltascopeFMP10和FMP30機型適用于測量鐵基體上涂鍍層厚度。 Isocope FMP10和FMP30機型是專為高精度測量非鐵 金屬上的超薄涂鍍層厚度而設計的。Dualscope FMP20和FMP40機型可以測量幾乎所有金屬底材上的涂鍍層厚度。 |
FMP10和FMP20型測厚儀是專業便攜式測量系統中的入門級機型, 是現場檢查和控制測量的理想選擇。它們操作簡便,機體堅固并 配有一塊高對比度彩色顯示屏和一個USB端口,可以輕松地將測 量數據傳輸到電腦,并通過便利的FISCHER DataCenter軟件進 行計算和儲存.FMP30和FMP40型儀器為測量數據的獲取提供了多的策略,為儲存客戶自定義的測量應用提供更多的空間*多可以儲存20000個數據,更是提供了藍牙數據傳輸功能。大量的圖形和統計功能使其能更適用于復雜的測量應用. 另外儀器可以根據內置的IMO PSPC、SSPC-PA2,QUALANOD 和 QUALICOAT規則進行測量。 |
Dualscope FMP100/150 |
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Dualscope FMP100是一款功能強大、界面友好的涂鍍層測厚儀,可以滿足眾多不同的測量需求。它集成了磁感應法和電渦流法于一體并可裝配各種不同的高精度探頭,即使在不斷變化的測量條件下,它都能很好的完成各種測量任務。它采用的Windows? CE操作系統,擁有圖形用戶界面和高分辨率的觸摸顯示屏,并配備了可儲存幾千個測量程式的存儲空間和眾多的統計計算功能,使其成為專業涂鍍層測試領域的很好解決方案。無論是用于汽車業、電鍍業、陽極氧化應用、防腐層耐用性測試還是精細涂層領域,在所有情況下,這款儀器一定會為您提供高的準確度和精確性。DualscopeFMP150進一步配備了第三種測量原理,即磁性法。它除了采用磁感應法和電渦流法測量涂鍍層厚度外,還可以測量非磁性金屬底材上鎳鍍層的厚度。 |
SR-SCOPE® RMP30-S銅箔測厚儀 |
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COULOSCOPE® CMS2庫侖測厚儀 |
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通過電阻法無損測量印制電路板上銅鍍層的厚度。由于儀器能不受中間銅層和背面銅層的影響,因而特別適合多層板及超薄板上頂層銅箔厚度的測量。 |
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CMS 型儀器可以快速、精確地測量任何基材上幾乎所有金屬鍍層的厚度,甚至是多鍍層的厚度。它的測量是一個 通過庫侖法進行反電鍍的過程。儀器采用了菜單式界面、 操作簡便是對電鍍產品質量監控和來料檢驗的理想選擇。CMS2 STEP型儀器用于對鍍層厚度和電位差進行標準化 STEP測試。 例如:對多層鎳產品的質量控制。STEP (Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination) 是一種針對多層鎳系統,在測量每個單獨的鍍層厚度的同時還能測定相鄰鍍層的電位差的方法。對于鍍層厚度的測量是基于庫侖法,而電位曲線則是使用帶有AgCl鍍層的銀制參比電極進行測量。 |
PHASCOPE® PMP10/PMP10 Duplex |
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主要用于在電鍍和PCB行業中對各種基材上的金屬鍍層的厚度進行質量控制。無論樣品表面是否平滑, PMP10都可以精確測量鐵基材上的鍍鎳層、鍍銅層和鍍鋅層的厚度; 它還能對印制電路板上的銅層厚度,甚至是孔內銅層的厚度進行測量。PMP10 Duplex型儀器是專為汽車行業測量雙鍍層而開發的(例如:油漆/Zn/Fe)通過一次測量就能同時獲得和顯示兩層涂鍍層各自的厚度。它還可以測量鋁材上油漆層的厚度。
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FischerScope MMS/FischerScope MMS PC2 |
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帶內置 Windows? CE操作系統和網絡互聯功能的臺式多功
能測量系統,尤其適合于無損,高精度的鍍層厚度測 量及 |
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在配備了合適的測量模塊后, MMS PC2可靈活運用于來
料檢驗,出廠檢驗,或是生產控等。能提供多種數據報告方
式,并通過FISCHER的FDD軟件進行質量過程控制.還可以
方便建立自動測量,因為測量系統可以直接控制馬達的
測量臺或XY樣品臺,并通過LAN及I/O模塊嵌入自動生
產線。
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