FISCHERSCOPE X-RAY XDL XDLM系列與XULXUUM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器,準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測(cè)量。XDLM型號(hào)的X射線源采用微聚焦管,可以測(cè)量細(xì)小的部件,對(duì)低輻射組分有較好的激勵(lì)作用。此外,XDLM配備了可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測(cè)量應(yīng)用創(chuàng)造良好的激勵(lì)條件。兩種型號(hào)的儀器都配備了比例接收器探測(cè)器。即使對(duì)于很小的測(cè)量點(diǎn),由于接收器的接收面積很大,仍然可以獲得足夠高的計(jì)數(shù)率,確保良好的重復(fù)精度。
比較XUL和XUM儀器而言,XDL和XDLM系列儀器測(cè)量測(cè)量方向從.上到下。它們被設(shè)計(jì)為用戶友好的臺(tái)式機(jī),使用模塊化結(jié)構(gòu),也就是說(shuō)它們可以配備簡(jiǎn)單支板,各種XY工作臺(tái)和Z軸以適應(yīng)不同的需求。配備了可編程XY工作臺(tái)的版本的XDL系列儀器可用于自動(dòng)化系列測(cè)試。它可以很方便地掃描表面,這樣就可以檢查其均勻性。為了簡(jiǎn)單快速定位樣品,當(dāng)測(cè)量門開(kāi)啟時(shí),XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到加載位置,同時(shí)激光點(diǎn)指示測(cè)量點(diǎn)位置。對(duì)于大而平整的樣品,例如線路板,殼體在側(cè)面有開(kāi)口(C形槽)。由于測(cè)量室空間很大,樣品放置方便, 儀器不僅可以測(cè)量 平面平整的物體,也可以測(cè)量形狀復(fù)雜的大樣品(樣品高度可達(dá)140mm)。Z軸可電動(dòng)調(diào)整的儀器,測(cè)量距離還可以在0 - 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇,這樣就可以測(cè)量腔體內(nèi)部或表面不平整的物體(DCM方法)。
電鍍液成分分析:Cu, Ni, Au (g/l)
PCB測(cè)量: Au/Ni/Cu/PCB