產品描述
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250和XAN 252是高性能，緊湊型且通用的X射線測量儀器，非常適合無損涂層厚度測量和材料分析。XAN 250和XAN 252儀器特別適合于測量和分析薄涂層，即使其成分非常復雜或濃度很小。高性能X射線熒光測量儀，用于快速無損材料分析和涂層厚度測量。高性能X射線熒光測量儀X-RAY XAN250，高性能X射線熒光測量儀，配有**進的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。
主要特點：
? 高性能機型，具有強大的綜合測量能力? 配有4 個電動調節的準直器和6個電動調節的基本慮片
? 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復雜的多元素分析
? 由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現樣品定位
? 高性能X射線熒光測量儀X-RAY XAN250
典型應用領域：
? 對電子和半導體行業中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量? 對有害物質進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量
? 在珠寶和手表業，以及在金屬精煉領域，對合金進行高精度的分析
? 用于高校研究和工業研發領域
規格參數：
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預期用途 |
能量色散X射線熒光測量儀（EDXRF）用于測量薄涂層，痕量元素和合金 |
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元素范圍 |
鋁（13）到鈾（92）–同時*多24個元素 |
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測量方向 |
自下而上 |
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X射線探測器 |
硅漂移檢測器（SDD） |
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分辨率(fwhm for Mn-Kα） |
≤ 160 eV |
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測量點 |
? 1.2 mm (47 mils) with aperture ? 1 mm (39 mils)平放樣品（測量距離0毫米） |
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測量距離 |
0…25毫米（0…1英寸） |
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樣品定位 |
手動 |
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縮放系數 |
Digital 1x, 2x, 3x, 4x |
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*大樣品重量 |
13 kg (29 lb) |
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電源 |
AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz |
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外形尺寸 |
403 x 588 x 365 mm |
814294500
