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菲希爾XDLM-pcb 210熒光射線膜厚儀
菲希爾XDLM-pcb 210熒光射線膜厚儀
  • 菲希爾XDLM-pcb 210熒光射線膜厚儀

  • 產品編號 : XDLM-pcb 210
  • 來自德國菲希爾Fischer的XDLM-PCB測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析的入門級、耐用型測量儀。用于測量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的專用X射線熒光測量儀器。
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產品描述


XDLM-PCB 220配備了可電動切換的多種準直器和基本濾片,讓每次測量都可以在優化的條件下進行,滿足各種測量需求。

XDLM-PCB 220是用戶界面友好的臺式測量儀器。測量門底部留有空隙,以方便對大面積印制電路板的測量。儀器樣品定位簡便,配備了高精度、可編程的XY平臺,并帶有彈出功能。激光點作為輔助定位,能幫助快速對準測量位置。配備了高分辨率彩色攝像頭,使得對準測量位置的過程更加準確、簡便。

XDLM-PCB 220配備帶鈹窗口的微聚焦鎢管,提供三擋可選高壓,3種可切換基本濾片


X射線鍍層測厚儀特點:

1、樣品定位簡單: 
          XDLM-PCB 200型:首先PCB板將在儀器集成的激光點的協助下準確放置于樣品臺上,然后將樣品臺如抽屜般推入儀器內部;
          XDLM-PCB210和220 :儀器配備了高精度、可編程的XY平臺并帶有彈出功能;激光點作為輔助定位,能幫助快速對準測量位置;
2、分辨彩色攝像頭,使得對準測量位置的過程更加準確、簡便;
3、通過強大且界面友好的WINFTM?軟件,可在電腦上便捷地完成整個測量過程,包括測量結果的數據分析和所有的相關信息的顯示等;
4、符合DIN ISO 3497和ASTM B568標準。

典型應用領域:

?    尺寸*大為610 x 610毫米(24 x 24英寸)的印刷電路板上的小部件和結構的測量
?    電子和半導體行業中功能涂層的測量
?    XDLM-PCB 210和220:自動測量,例如在質量控制中
?    確定電鍍液的成分


來自德國菲希爾Fischer的XDLM-PCB測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析的入門級、耐用型測量儀。用于測量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的專用X射線熒光測量儀器。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB儀器是專門用于測量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的堅固耐用的入門級儀器。通過使用微焦點X射線源和比例計數管可以實現高計數率,從而可以進行精確的測量。出色的準確性和長期穩定性是所有FISCHERSCOPE X-RAY系統的特征。大大減少了重新校準的必要性,從而節省了時間和精力。FISCHER的基本參數方法無需進行校準即可分析固體和液體樣品以及涂層系統。為了在大型印刷電路板和多面板上進行測量,XDLM-PCB 200可以配備樣品臺擴展架,以擴大可用的樣品放置區域。XDLM-PCB 220具有可電動改變的孔徑和主濾波器,可為每次測量創建理想的激勵條件。這使得該儀器用途甚為廣泛。

兩種儀器均具有簡單的樣品定位功能

?    XDLM-PCB 200:借助集成的激光指示器,可以大致定位PCB。 然后將樣品支架像抽屜一樣推入儀器中。
?    XDLM-PCB 210和220:該儀器配備具有彈出功能的高精度可編程XY工作臺。 激光指示器用作定位輔助工具,并支持快速對準要測量的樣品。



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