1984年推出的Form Talysurf是*臺能夠同時測量表面粗糙度、形狀和輪廓的儀器。現在,我們新發展的Form Talysurf系列測量系統強化了Taylor Hobson的地位,并創建了評價表面粗糙度和形狀的新的標準。通過全毫米范圍、可互換測針的廣泛選擇以及已獲的標定程序,該電感式系統適用 于幾乎所有高精度應用。用于表面粗糙度和輪廓測量的高分辨率測量系統是眾多汽車、軸承、齒輪等行業應用的理想選擇。1984年推出的Form Talysurf是*臺能夠同時測量表面粗糙度、形狀和輪廓的儀器。現在,我們新發展的Form Talysurf系列測量系統強化了Taylor Hobson的地位,并創建了評價表面粗糙度和形狀的新的標準。通過全毫米范圍、可互換測針的廣泛選擇以及已獲的標定程序,該電感式系統適用 于幾乎所有高精度應用。Form Talysurf i系列是用于表面粗糙度和輪廓測量的自動化檢測系統,具有低噪音軸和高分辨率傳感器,表面粗糙度和輪廓測量合二為一,通過選擇不同類型的傳感器,能夠為各種應用提供多樣化的方案,是眾多汽車、軸承、齒輪等行業應用的理想選擇。
●表面粗糙度和輪廓測量合二為一
Form Talysurf i系列是一臺能夠同時測量表面粗糙度和輪廓的高精度儀器。該系統的低噪音和高分辨率傳感器能夠確保測量的完整性,通過選擇不同類型的傳感器,能夠為各種應用提供多樣化的方案。
●為您的應用量身定制
從螺釘螺紋到曲軸、從氣缸體到閥門導管,選擇適合您的配置滿足您的應用需求。
●溫度補償
作為所有i系列的標準配置,這個獨特的系統能夠監控和反饋環境溫度的變化,確保在任何環境下,測量的穩定性和完整性能夠得到充分發揮。
●可重復測量的結果
擁有多年行業經驗,精密加工的專業知識以及 FEA優化設計的*結合,能夠提供低噪音,且近乎*的機械測量精度。通過可溯源的標準器和專有計算法則,能夠進一步有效地消除儀器本身帶來的影響從而得到更加準確的測量結果。
應用包括:
》形狀分析*:測量和評價半徑、角度(坡度)以及尺寸
》 簡單的用戶界面*:和系統的可編程性結合,可以提供一個真正的車間現場解決方案。可提供定制設計。
》 雙輪廓分析軟件*:允許測量結果之間的比較,以分析磨損、公差等。
》 Ultra Contour 專用輪廓分析:獨自的軟件用于尺寸分析,允許設計數據和測量結果直接比較,并得到誤差。也可以提供特殊的硬件用于大量程的應用。
》Talymap 3D分析:獨自的軟件用于三維形貌分析。需要另外定購特殊的硬件。
一套包括哥特式弧的完整分析軟件,使用戶能夠很容易地對工件進行準確的評測。無論您將本產品運用于測量粗糙度、半徑、三維輪廓、物料比例,還是哥特式弧的測量,分析軟件都將大幅優化您的設備功能,使其滿足您的使用。
i60 | i120 | i200 | |
橫向掃描長度: | 0.1mm-60mm | 0.1mm-120mm | 0.1mm-200mm |
直線度不確定度: | 0.06 μ m +0.007 μ m/mm | 0.5 μ m/ 120mm | 0.75 μ m / 200mm |
水平方向小數據采樣間隔: | 0.25 μ m | 0.125 μm | |
機動垂直立柱行程: | 450mm(標準),700mm( 選購) | ||
粗糙度參數: |
R3y、R3z、Ra、Rc、Rda、Rdc、Rdq、RHSC、Rku、RIn、RIo、Rlq、Rmr、Rmr(c)、 Rp、RPc、Rq、RS、 Rsk、RSm、Rt、Rv、RVo、Rz、Rz(JIS) |
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波紋度參數: |
Wa、Wc、Wda、 Wdc、 Wdq、 WHSc、Wku、WIn、WLo、Wlq、Wlq、Wmr、Wmr(c)、 Wp、WPc、Wq、WS、 Wsk、WSm、Wt、Wv、WVo、Wz |
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未濾波參數: |
Pa、Pc、Pda、Pdc、 Pdq、PHSC、 Pku、 PIn、 PLo、Plq、 Pmr(c)、 Pp、PPc、Pq、PS、Psk、 PSm、Pt、 Pv、 PVo、Pz、Pz(JIS) |
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R&W參數: | Ar、Aw、Pt、R、Rx、Sar、 Saw、Sr、 Sw、W、Wte、Wx | ||
Rk參數: | A1、A2、Mr1、Mr2、Rk、Rpk、Rvk | ||
濾波器: | ISO2CR濾波器,2CRPC濾波器和Gaussian(高斯)濾波 | ||
半徑測量不確定度: | 0.1 - 22mm=名義值的1%至0.015%; 22- 1000mm=名義值的0.02%至0.1% | ||
角度測量的不確定度: | 0.5弧分(+/- 35°大范圍) | ||
表面粗糙度參數的不確定度: | 2% +4nm (僅適用于峰值參數) | ||
寬范圍傳感器(選配)類型: | 電感式 | ||
分辨率: | 28mm量程時427nm, 5.6mm量程時85nm, 1.1mm 量程時17nm | ||
垂直測量量程: | 28mm(使用1mm直徑球形測頭測量平行于基準的玻璃平晶的直線度) | ||
范圍/分辨率: | 65,536:1 |