瑞士博勢Proceq Equotip Bambino 2硬度計
- 產(chǎn)品編號 : Equotip Bambino 2
- Proceq Equotip Bambino 2是一款易于使用的便攜式硬度計，可用于大多數(shù)金屬的精確測量。 Proceq Equotip Bambino 2將現(xiàn)代電子設備和創(chuàng)新的沖擊裝置相結合，提供較高的性價比。 這種獨立的測試儀不需要單獨的指示設備，電纜或PC硬件。 Proceq Equotip Bambino 2輕巧緊湊的設計非常適用于質(zhì)量控制和來料檢驗和整個生產(chǎn)過程的測試。 其易用的操作界面及其實用功能使得Proceq Equotip Bambino 2成為符合人體工程學的綜合回彈硬度測試儀。
- 詢價
產(chǎn)品描述
瑞士博勢Proceq Equotip Bambino 2硬度計-----易于使用的便攜式硬度計，可用于大多數(shù)金屬的精確測量,Proceq Equotip Bambino 2是一款易于使用的便攜式硬度計，可用于大多數(shù)金屬的精確測量。 Proceq Equotip Bambino 2將現(xiàn)代電子設備和創(chuàng)新的沖擊裝置相結合，提供較高的性價比。 這種獨自的測試儀不需要單獨的指示設備，電纜或PC硬件。 Proceq Equotip Bambino 2輕巧緊湊的設計非常適用于質(zhì)量控制和來料檢驗和整個生產(chǎn)過程的測試。 其易用的操作界面及其實用功能使得Proceq Equotip Bambino 2成為符合人體工程學的綜合回彈硬度測試儀。
監(jiān)測金屬硬度
金屬在轉換為產(chǎn)品前要經(jīng)過不同工藝的處理。每道工藝都會對金屬的機械和化學性質(zhì)產(chǎn)生影響。例如，鋼的強度由其化學成分和微結構轉變確定。宏觀變量用于控制產(chǎn)品質(zhì)量。硬度是較易監(jiān)測的的一個金屬特征。1975 年，Proceq 發(fā)明了創(chuàng)造性的便攜式金屬硬度檢測儀“Equotip”。早已成為業(yè)界標準的里氏原理也由 Proceq 發(fā)明，使測量金屬硬度變得非常簡單。現(xiàn)在，Equotip Piccolo 2 / Bambino 2 繼續(xù)發(fā)揚了 Proceq 制造產(chǎn)品的傳統(tǒng)。
ProceqEquotip Bambino 2還具有以下特點
標準化測試根據(jù)DIN 50156和ASTM A956、自動識別和補償沖擊方向 - 高度準確
大容易讀取的高對比度液晶顯示器 - 使讀數(shù)更容易
將各個讀數(shù)和平均測試結果轉換為所有常見的硬度標準（HV，HB，HRC，HRB，HS）
操作簡單 - 通過三鍵鍵盤設置所有測試參數(shù)，耐刮擦鋁制外殼 - 堅固耐用
智能開機/待機電源切換以獲得電池充電壽命內(nèi)置鋰離子電池可通過USB端口或使用可選的外部充電器
體積小巧便于攜帶 - 僅145mm x 44mm x 20mm，可以隨時升級到Equotip®Piccolo
主要附件
沖擊裝置 DL - 這是 Proceq 獨家提供的功能。它允許用戶使用 Piccolo 2 / Bambino 2 快速簡便地互換 D 和 DL 沖擊裝置。
測試塊 - 在參考硬度對象上定期執(zhí)行 3 到 10 次的測試沖擊是很有必要，這可用于驗證Equotip 儀器能否正確操作。
根據(jù)用戶的硬度要求，可使用各種測試塊。為了更加方便，測試塊還以不同標度指示出參考硬度值。
支撐環(huán) - 里氏回彈檢測儀僅當沖擊體在沖擊過程中距測試表面適當距離時才能正確工作。
多種型號的支撐環(huán)允許在各種形狀的目標上進行測試，即平面、凹面或凸起柱面、球形測試表面等。
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即時轉換成常用金屬硬度 |
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金屬硬度可通過不同的標度顯示：HLD（里氏）、HRC（洛氏）、HB（布氏）、HV（維氏）等。 使用 Piccolo 2 /Bambino 2 特別的單一加載釋放機制， 可通過任何選定的硬度標度來獲取和顯示硬度測量值。 Equotip Piccolo 2 具有一個額外的功能，允許用戶為特殊合金自定義轉換曲線， 還允許用戶將硬度讀數(shù)轉換為抗張強度。 |
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Equotip 硬度檢測儀的里氏回彈原理
常用于金屬的便攜式硬度檢測儀基于 Proceq SA 發(fā)明的里氏回彈法。Equotip Bambino 2 按里氏原理進行操作，其中的硬度值是用在樣品上進行沖擊前后的沖擊體的能量之比計算出來的。此能量指數(shù)(EQUO) 以硬度單位 HL 表示，用沖擊體的沖擊速度和回彈速度（vi、 vr）之比計算出來。沖擊體在較硬樣品上的回彈速度比在較軟樣品上要快，從而得出更大的能量指數(shù)。
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技術參數(shù) |
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使用 D 型沖擊裝置 |
使用 DL型沖擊裝置 |
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測量范圍 |
150-950 HLD |
250-970 HLDL |
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尺寸 |
147.5 x 44 x 20 毫米（55.71 x 1.75 x 0.79英寸） |
203 x 44 x 20 毫米（7.99 x 1.75 x 0.79 英寸） |
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儀器重量 |
142 克（5 盎司） |
152 克（5.4 盎司） |
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轉換 |
80-955 HV、81-678 HB、20-70 HRC、38-102 HRB、30-100 HS （僅限 Equotip Piccolo 2：274-2193 N/mm2）
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分辨率 |
1 HLD / HLDL、1 HV、1 HB；0.1 HRC、0.1 HRB、0.1 HS（僅限 Equotip Piccolo 2：1 N/mm2 Rm） |
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測量精度 |
± 4 HLD / HLDL（800 HLD / HLDL 時為 0.5%） |
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*大檢測硬度 |
890 HLD (955 HV, 68 HRC) |
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沖擊方向 / 能量 |
自動補償 / 11 Nmm |
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球壓頭 |
碳化鎢（約 1’500 HV），~ 3 毫米（0.12 英寸） |
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外殼 |
防刮硬質(zhì)鋅合金 |
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電池 |
可充電鋰電池，能夠執(zhí)行 2 萬多次沖擊，充電電流 100 mA |
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集成存儲器 |
非易失性 RAM，32 kB，可存儲約 2000 個測量值（僅限 Equotip Piccolo 2） |
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操作條件 |
溫度：-10 至 +60 °C（14 至 140 °F）；濕度：*高 90% |
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支撐環(huán) |
附件 通用 |
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350 03 000Equotip 支撐環(huán)組（12 件裝）適用于 D/DC/C/E/D+15 350 03 001Equotip 支撐環(huán) Z 10-15350 03 002Equotip 支撐環(huán) Z 14.5-30 350 03 003Equotip 支撐環(huán) Z 25-50 350 03 004Equotip 支撐環(huán) HZ 11-13 350 03 005Equotip 支撐環(huán) HZ 12.5-17 350 03 006Equotip 支撐環(huán) HZ 16.5-30 350 03 007Equotip 支撐環(huán) K 10-15 350 03 008Equotip 支撐環(huán) K 14.5-30 350 03 009Equotip 支撐環(huán) HK 11-13 350 03 010Equotip 支撐環(huán) HK 12.5-17 350 03 011Equotip 支撐環(huán) HK 16.5-30 350 03 012Equotip 支撐環(huán) UN
保修 *長可為主機購買 36 個月的延長保修。 延長保修服務必須在購買時或購買之日 起 90 天內(nèi)購買。
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352 95 021Equotip DL 附件工具包 350 01 015Equotip 耦合劑 測試塊 357 11 100Equotip 測試塊 D/DC，經(jīng) Proceq 校準 (<500HLD/<225HV/<220HB) 357 12 100Equotip 測試塊 D/DC，經(jīng) Proceq 校準 (~600HLD/~335HV/~325HB/~35HRC) 357 13 100Equotip 測試塊 D/DC，經(jīng) Proceq 校準 (~775HLD/~630HV/~56HRC) 357 11 120Equotip 測試塊 DL，經(jīng) Proceq 校準 (<710HLDL/<225HV/<220HB) 357 12 120Equotip 測試塊 DL，經(jīng) Proceq 校準 (~780HLDL/~335HV/~325HB/~35HRC) 357 13 120Equotip 測試塊 DL，經(jīng) Proceq 校準 (~890HLDL/~630HV/~56HRC) 357 10 109Equotip 測試塊插入式校準 D/DC 357 10 129Equotip 測試塊插入式校準 DL
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